Система UltraFLEX предназначена для тестирования практически всех существующих устройств, от обычной цифровой логики и операционных усилителей до сложнейших современных БИС, включая System-On-Chip (SOC) до System In Package (SIP).
Оригинальная архитектура систем позволяет подключать к любому выводу тестируемой микросхемы все имеющиеся инструменты: цифровой ввод-вывод, источники сигналов постоянного и переменного тока, блоки питания, модули параметрического контроля, генераторы, формирователи и измерители временных параметров.
Отличительные особенности:
Области применения:
Контроль параметров полупроводниковых компонентов и микросхем на пластине и в корпусе.
Исследовательские работы с полупроводниковыми компонентами и микросхемами.
Опции:
Модуль Memory Test Option (MTO):
Модуль SCAN test:
Буферированный ввод вывод: